基于機器視覺的電容器表面缺陷檢測系統(tǒng)的研究與開發(fā)
本文關(guān)鍵詞:基于機器視覺的電容器表面缺陷檢測系統(tǒng)的研究與開發(fā),由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
【摘要】:隨著信息化、工業(yè)化生產(chǎn)的快速發(fā)展,電容器的需求也迅速提高。在生產(chǎn)過程中,為確保產(chǎn)品的質(zhì)量,必須對電容器外觀進行檢測。本文針對電容器外觀缺陷,設(shè)計了一套能夠?qū)﹄娙萜魍庥^缺陷進行實時、自動的檢測系統(tǒng)。首先,分析了常見的電容器表面缺陷種類及其檢測要求,設(shè)計了電容器外觀缺陷檢測系統(tǒng)的總體方案,研究了機器視覺系統(tǒng)的構(gòu)成及各組成部分的原理和作用并根據(jù)待檢對象的特征及檢測要求,對硬件系統(tǒng)的硬件進行了選型。選擇Halcon機器視覺軟件作為系統(tǒng)軟件的開發(fā)平臺并簡要介紹了Halcon軟件的優(yōu)勢、界面組成、外觀檢測方面的應(yīng)用等。其次,根據(jù)檢測需求分析,進行電容器表面缺陷檢測系統(tǒng)的算法設(shè)計。機器視覺系統(tǒng)的算法設(shè)計是整個系統(tǒng)的核心部分,本文重點研究了電容器外觀缺陷檢測的圖像預(yù)處理算法,包括濾波、閾值分割、形態(tài)學(xué)、區(qū)塊分析等。提出了一種基于Canny算子的改進算法,并進行了相應(yīng)的分析和比較,設(shè)計出適合電容器外觀檢測的預(yù)處理算法;研究了電容器外觀缺陷的提取和識別算法,根據(jù)電容器不同角度表面的具體情況,設(shè)計了不同角度表面缺陷的提取和識別算法。最后,利用Halcon10.0和VC++進行編程,設(shè)計了電容器表面缺陷檢測系統(tǒng)的軟件系統(tǒng),在VC++中搭建了界面良好的電容器表面缺陷檢測界面,然后對電容器樣本進行測試工作。實驗結(jié)果表明,本系統(tǒng)能夠達到實時、快速、準確地檢測電容器的外觀缺陷。
【關(guān)鍵詞】:電容器 外觀缺陷檢測 Halcon 改進Canny
【學(xué)位授予單位】:江蘇科技大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號】:TM53;TP391.41
【目錄】:
- 摘要5-6
- Abstract6-14
- 第1章 緒論14-21
- 1.1 課題的研究背景及研究意義14-17
- 1.2 本課題國內(nèi)外研究現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢17-19
- 1.2.1 機器視覺技術(shù)的發(fā)展17-18
- 1.2.2 國內(nèi)外外觀檢測的研究現(xiàn)狀18-19
- 1.3 論文的內(nèi)容及論文結(jié)構(gòu)19-21
- 1.3.1 本文研究內(nèi)容19
- 1.3.2 論文結(jié)構(gòu)19-21
- 第2章 電容器外觀檢測系統(tǒng)的總體設(shè)計21-36
- 2.1 機器視覺概述21-22
- 2.1.1 機器視覺的原理及應(yīng)用21
- 2.1.2 機器視覺的硬件組成21-22
- 2.2 系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)設(shè)計22-23
- 2.3 視覺系統(tǒng)檢測及工作流程23-25
- 2.3.1 視覺系統(tǒng)檢測流程23-24
- 2.3.2 視覺系統(tǒng)檢測種類及檢測精度24-25
- 2.4 基于智能相機的機器視覺系統(tǒng)25-26
- 2.4.1 智能相機的概念25
- 2.4.2 智能相機的結(jié)構(gòu)25-26
- 2.5 基于PC的機器視覺系統(tǒng)26-30
- 2.5.1 光源系統(tǒng)26-28
- 2.5.2 鏡頭28
- 2.5.3 相機28-29
- 2.5.4 圖像處理模塊29-30
- 2.6 Halcon簡介30-35
- 2.6.1 基本介紹30
- 2.6.2 HDevelop的使用界面30-32
- 2.6.3 HALCON在電容器外觀缺陷檢測上的應(yīng)用32-34
- 2.6.4 HALCON與VC++的比較34-35
- 2.7 本章小結(jié)35-36
- 第3章 電容器外觀缺陷檢測方法及原理36-47
- 3.1 圖像濾波36-38
- 3.1.1 均值平滑36-37
- 3.1.2 中值濾波法37-38
- 3.2 圖像分割38-41
- 3.2.1 閾值分割39-40
- 3.2.2 基于邊緣的閾值分割40-41
- 3.3 圖像的形態(tài)學(xué)處理41-44
- 3.3.1 腐蝕(Erosion)41-42
- 3.3.2 膨脹(Dilation)42
- 3.3.3 開運算和閉運算42-44
- 3.4 Blob分析44-45
- 3.4.1 Blob分析的基本理論44-45
- 3.4.2 Blob分析在表面缺陷檢測中的應(yīng)用45
- 3.5 圖像的測量45-46
- 3.6 本章小結(jié)46-47
- 第4章 圖像邊緣檢測算法47-54
- 4.1 經(jīng)典的邊緣檢測算法47-50
- 4.2 改進的Canny邊緣檢測算法50-53
- 4.2.1 改進的Canny邊緣檢測算法流程50-52
- 4.2.2 結(jié)果驗證52-53
- 4.3 本章小結(jié)53-54
- 第5章 電容器外觀缺陷檢測系統(tǒng)算法設(shè)計和系統(tǒng)組成54-69
- 5.1 電容器外觀缺陷檢測流程54-62
- 5.1.1 圖像預(yù)處理54-55
- 5.1.2 側(cè)面角度檢測55-58
- 5.1.3 正面和底面檢測58-61
- 5.1.4 實驗結(jié)果分析61-62
- 5.2 電容器外觀缺陷檢測系統(tǒng)組成62-67
- 5.2.1 軟件系統(tǒng)的總體設(shè)計流程63-64
- 5.2.2 Halcon10.0 在圖像處理中主要功能簡介64
- 5.2.3 檢測系統(tǒng)各部分功能及其界面64-67
- 5.3 本章小結(jié)67-69
- 總結(jié)與展望69-71
- 總結(jié)69-70
- 展望70-71
- 參考文獻71-75
- 攻讀碩士期間承擔(dān)的科研任務(wù)及主要成果75-77
- 致謝77-78
- 詳細摘要78-81
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