【摘要】：短時閃變嚴重度P_(st)是衡量電能質(zhì)量的一個重要指標,為提高P_(st)的計算精度,提出了基于原子稀疏分解和實數(shù)編碼量子進化算法(Atom-RQEA)相結(jié)合的短時閃變嚴重度計算方法。其核心是根據(jù)電壓波動與閃變信號的特點構(gòu)造了原子庫,由實數(shù)編碼量子進化算法優(yōu)化原子特征參數(shù),自適應選擇最佳匹配原子重構(gòu)電壓波動信號,進而計算短時閃變嚴重度P_(st)。仿真結(jié)果表明:基于Atom-RQEA方法,能夠提高短時閃變嚴重度P_(st)計算精度,驗證了提出方法的有效性和適用性。
[Abstract]:Short-time flicker severity P _ (st) is an important index to measure power quality. In order to improve the calculation precision of P _ (st), A short-time flicker severity calculation method based on the combination of atomic sparse decomposition and real coded quantum evolutionary algorithm (Atom-RQEA) is proposed. The core is to construct the atomic database according to the characteristics of voltage fluctuation and flicker signal. The real coded quantum evolutionary algorithm is used to optimize the characteristic parameters of the atom, and the best matching atom is selected adaptively to reconstruct the voltage fluctuation signal. And then calculate the short-time flicker severity P _ (st). The simulation results show that the calculation accuracy of short-time flicker severity P( st) can be improved based on Atom-RQEA method, and the validity and applicability of the proposed method are verified.
【作者單位】： 哈爾濱理工大學自動化學院;
【基金】：黑龍江省自然科學基金(E2015062)
【分類號】：TM711

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本文編號：2459257