耦合薄膜微電感繞組損耗解析算法
本文選題:薄膜微電感 + 繞組損耗。 參考:《中國(guó)電機(jī)工程學(xué)報(bào)》2017年21期
【摘要】:工作于電壓調(diào)節(jié)模塊中的耦合薄膜微電感,耦合繞組的電流之間存有相位差,電流相位差使電感內(nèi)的磁場(chǎng)分布發(fā)生改變,引起繞組損耗的顯著變化。準(zhǔn)確預(yù)測(cè)不同相位差與頻率下的繞組損耗對(duì)于耦合薄膜微電感的設(shè)計(jì)及優(yōu)化至關(guān)重要。該文在此背景下分析了跑道型耦合薄膜微電感在不同電流相位差下的磁場(chǎng)分布情況,通過準(zhǔn)確提取相應(yīng)頻率下的電阻矩陣,建立不同電流相位差下的繞組損耗解析算法。最后運(yùn)用有限元仿真軟件驗(yàn)證文中耦合薄膜微電感繞組損耗解析算法的準(zhǔn)確性和實(shí)用性。
[Abstract]:The coupling thin film microinductors working in the voltage regulation module have phase difference between the current of the coupling winding. The current phase difference changes the magnetic field distribution in the inductor and causes the significant change of winding loss. Accurate prediction of winding loss at different phase differences and frequencies is very important for the design and optimization of coupled thin film microinductors. In this paper, the magnetic field distribution of the runway coupling thin film microinductor under different current phase difference is analyzed, and an analytical algorithm for winding loss under different current phase difference is established by accurately extracting the resistance matrix at the corresponding frequency. Finally, finite element simulation software is used to verify the accuracy and practicability of the analytical algorithm for the winding loss of coupled thin film microinductors.
【作者單位】: 福州大學(xué)電氣工程與自動(dòng)化學(xué)院;
【基金】:福建省自然科學(xué)基金項(xiàng)目(2014J01178)~~
【分類號(hào)】:TM55
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,本文編號(hào):2026535
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