本文選題：氧化鋅壓敏電阻　切入點(diǎn)：肖特基勢(shì)壘　出處：《中國(guó)電力》2016年11期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：針對(duì)ZnO壓敏電阻在交、直流老化作用后,其宏觀電容量隨時(shí)間變化特性的問題,基于磚塊模型(block model)對(duì)影響ZnO壓敏電阻宏觀電容量的相關(guān)參數(shù)進(jìn)行了理論分析,通過對(duì)ZnO壓敏電阻樣品分別施加不同時(shí)長(zhǎng)的交流以及直流老化試驗(yàn)時(shí),發(fā)現(xiàn)ZnO壓敏電阻的宏觀電容量在接受交、直流老化后隨著時(shí)間的延長(zhǎng)呈現(xiàn)先降低后增長(zhǎng)的趨勢(shì);當(dāng)交、直流老化時(shí)間較短時(shí),宏觀電容量相較初始值存在小幅降低,而當(dāng)交、直流老化時(shí)間較長(zhǎng)時(shí),宏觀電容量相較初始值存在大幅的增長(zhǎng),得出宏觀電容量隨時(shí)間的變化是由界面態(tài)俘獲電子的釋放過程以及晶界層熱破壞過程共同作用所導(dǎo)致的結(jié)論,這對(duì)研究ZnO壓敏電阻的老化特性具有一定的參考價(jià)值。
[Abstract]:In order to solve the problem that the macroscopic capacitance of ZnO varistor changes with time after AC and DC aging, the related parameters affecting the macroscopic capacitance of ZnO varistor are analyzed theoretically based on brick model. By applying different length AC and DC aging test to ZnO varistor samples, it is found that the macroscopic capacitance of ZnO varistor is accepting AC, and after DC aging, it decreases first and then increases with time. When the direct current aging time is short, the macroscopic capacitance decreases slightly compared with the initial value, while when AC, DC aging time is longer, the macroscopic capacitance increases greatly compared with the initial value. It is concluded that the change of macroscopic capacitance with time is caused by the interaction of interfacial state capture electron release process and grain boundary thermal destruction process, which has some reference value for studying the aging characteristics of ZnO varistor.
【作者單位】： 揚(yáng)州市氣象局;
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(41175003) 江蘇高校優(yōu)勢(shì)學(xué)科建設(shè)工程資助項(xiàng)目~~
【分類號(hào)】：TM54

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本文編號(hào)：1571405