復(fù)合絕緣子微波無損檢測(cè)方法的關(guān)鍵因素研究
本文關(guān)鍵詞: 復(fù)合絕緣子 無損檢測(cè) 微波 缺陷 CST仿真 護(hù)套厚度 出處:《高電壓技術(shù)》2017年01期 論文類型:期刊論文
【摘要】:為了減少?gòu)?fù)合絕緣子缺陷的故障隱患,研究使用微波反射法對(duì)復(fù)合絕緣子內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測(cè)的方法。該方法利用微波在絕緣子內(nèi)部各層交界面的反射特征來進(jìn)行缺陷檢測(cè)。采用波阻抗模型進(jìn)行計(jì)算,從理論上驗(yàn)證了微波檢測(cè)方法的可行性;采用有限積分法對(duì)不同厚度的硅橡膠環(huán)氧樹脂組合樣品進(jìn)行建模仿真,與實(shí)驗(yàn)結(jié)果對(duì)比,得到了硅橡膠厚度與微波反射信號(hào)強(qiáng)度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,即幅度衰減的周期性變化規(guī)律;采用平板樣品進(jìn)行實(shí)驗(yàn),研究了缺陷尺寸與檢測(cè)精度之間的關(guān)系,實(shí)驗(yàn)中最小可以檢測(cè)到平板樣品內(nèi)0.3 mm深、4 mm寬的缺陷;提出使用讀數(shù)偏移量相對(duì)值來判斷缺陷的方法,使得本微波檢測(cè)法可以適用于不同型號(hào)的絕緣子。理論和實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,采用微波反射法對(duì)復(fù)合絕緣子缺陷進(jìn)行檢測(cè)具有良好的可行性。
[Abstract]:In order to reduce the hidden trouble of composite insulator defect, The method of detecting the internal defects of composite insulator by microwave reflection method is studied. The method uses the reflection characteristics of the interface of each layer inside the insulator to detect the defect. The wave impedance model is used to calculate the defect. The feasibility of microwave detection method is proved theoretically, and the modeling and simulation of silicone rubber epoxy resin composite samples with different thickness by finite integral method are compared with the experimental results. The relationship between the thickness of silicone rubber and the intensity of microwave reflection signal, that is, the periodic variation of amplitude attenuation, is obtained, and the relationship between defect size and detection accuracy is studied by using flat plate sample. In the experiment, the defect of 0.3 mm deep and 4 mm wide in the plate sample can be detected, and the method of using the relative value of the reading offset to judge the defect is put forward. The theoretical and experimental results show that it is feasible to detect the defects of composite insulators by microwave reflection method.
【作者單位】: 清華大學(xué)深圳研究生院;
【基金】:國(guó)家自然科學(xué)基金(51377093)~~
【分類號(hào)】:TM216
【參考文獻(xiàn)】
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【共引文獻(xiàn)】
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