超聲對X射線分析光柵鉍填充率影響研究
本文關(guān)鍵詞:超聲對X射線分析光柵鉍填充率影響研究
更多相關(guān)文章: 光學(xué)工程 X射線 相襯 分析光柵 微鑄造 表面改性 浸潤 鉍 超聲
【摘要】:改進的微鑄造技術(shù)利用Bi2O3代替Si O2作為浸潤層,以提升X射線吸收光柵中鉍的填充率.通過源光柵發(fā)現(xiàn),鉍填充率很大程度上取決于初始浸潤材料Bi(NO3)3的覆蓋程度.提出使用超聲的方法,使丙酮攜帶Bi(NO3)3進入高深寬比分析光柵結(jié)構(gòu)內(nèi)部,并覆蓋在側(cè)壁表面,待Bi(NO3)3高溫分解為Bi2O3后,利用Bi2O3與鉍的浸潤性使鉍完全進入分析光柵結(jié)構(gòu)內(nèi)部.實驗結(jié)果表明,相比不使用和使用頻率如40、120及170 k Hz的超聲,80 k Hz的超聲更有助于提高鉍的填充率,同時還表明超聲具備向高深寬比結(jié)構(gòu)內(nèi)輔助填充物質(zhì)的能力.
【作者單位】: 深圳大學(xué)光電工程學(xué)院光電子器件與系統(tǒng)教育部/廣東省重點實驗室;
【關(guān)鍵詞】: 光學(xué)工程 X射線 相襯 分析光柵 微鑄造 表面改性 浸潤 鉍 超聲
【基金】:國家重大科研儀器設(shè)備研制專項資助項目(61227802) 國家自然科學(xué)基金資助項目(61405120)~~
【分類號】:TB302
【正文快照】: Foundation:National Special Foundation of China for Major Science Instrument(61227802);National Natural Science Foundationof China(61405120)2006年,Pfeiffer等[1]提出并驗證了使用普通X射線管和源光柵代替同步輻射源實現(xiàn)X射線微分干涉相襯成像的方法,使該技術(shù)得以
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,本文編號:702787
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