基于粉體絕緣納米材料的掃描電鏡粘樣方法研究
發(fā)布時(shí)間:2017-06-19 05:09
本文關(guān)鍵詞:基于粉體絕緣納米材料的掃描電鏡粘樣方法研究,,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
【摘要】:采用場發(fā)射掃描電子顯微鏡(JSM-7500F),以粉體絕緣納米材料——二氧化硅樣品為研究對(duì)象,采用有機(jī)溶劑超聲分散法和直接分散法,分別用碳導(dǎo)電膠帶、高濃度銀導(dǎo)電漿、銀漿溶液來粘貼樣品,分析并討論了各種粘樣方法的掃描電鏡成像效果。結(jié)果表明,對(duì)常規(guī)的粉體絕緣納米材料進(jìn)行形貌觀察時(shí),采取直接分散法、用銀漿溶液進(jìn)行樣品粘貼,不但圖像效果好,而且有利于保持電鏡樣品室、探頭以及物鏡光闌的清潔,延長儀器的使用壽命。
【作者單位】: 集成光電子學(xué)國家重點(diǎn)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室吉林大學(xué)實(shí)驗(yàn)區(qū);長春理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】: 納米二氧化硅粉末 場發(fā)射掃描電鏡 超聲分散法 直接分散法
【基金】:吉林省科技發(fā)展計(jì)劃項(xiàng)目(201201120) 中國博士后基金項(xiàng)目(2014M561268)
【分類號(hào)】:TN16;TB383.1
【正文快照】: 1掃描電鏡對(duì)樣品的要求要精確了解各種材料的表面形貌和組織結(jié)構(gòu),掃描電子顯微鏡(scanning electron microscopy,SEM,簡稱掃描電鏡)是目前最常用的儀器[1-3]。掃描電鏡不僅可以探測物質(zhì)表面的微觀形貌,而且還可獲得微觀區(qū)域特定的化學(xué)元素的分布,是表征納米材料的最佳手段之一
【相似文獻(xiàn)】
中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前4條
1 孫勝敏;;超聲分散法制備表面修飾二氧化鈦的研究[J];廣東化工;2012年04期
2 陳洪杰,李志偉,陶小軍,吳志申,張治軍;超聲分散法制備Sn-Cd納米微粒[J];化學(xué)研究;2005年03期
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中國重要會(huì)議論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條
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本文編號(hào):461625
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