鈦酸鋇在Si基板上的制備及其作為MOS和磁電耦合單元應(yīng)用的探索
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【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
圖3.1濺射時(shí)長(zhǎng)為100min時(shí)沉積態(tài)非晶BTO薄膜厚度與濺射位置的關(guān)系
第三章BTO薄膜在Si基板上的沉積與非晶網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的形成33第三章BTO薄膜在Si基板上的沉積與非晶網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的形成3.1引言對(duì)于BTO薄膜在Si基板上的沉積及其應(yīng)用,在BTO/Si界面處形成強(qiáng)且可控的內(nèi)建電場(chǎng)十分關(guān)鍵。由于摻雜會(huì)使晶態(tài)氧化物的本征特性發(fā)生改變,并且引入的載流子濃度有....
圖3.2BTO薄膜的濺射模式
這些電場(chǎng)線一方面將加速工作氣體中的Ar+離子使之轟擊靶材發(fā)生濺射,另一方面將加速靶材表面的這些O2-離子使之轟擊基板,發(fā)生反濺射現(xiàn)象。因此,基板上的物質(zhì)將被這些O2-離子刻蝕,使得靶材正下方難以沉積上薄膜,當(dāng)反濺射現(xiàn)象嚴(yán)重時(shí)還會(huì)使得基板被刻蝕。一般情況下,反濺射效應(yīng)在靶材正下方最....
圖4.18濺射時(shí)長(zhǎng)分別為(a),(d),(g)10min、(b),(e),(h)40min和(c),(f),(i)100min的BTO薄膜在(a)c420°C,(d)f460°C,(g)i600°C保溫2h的SEM照片
浙江大學(xué)碩士學(xué)位論文76圖4.17濺射時(shí)長(zhǎng)為10min和100min的BTO薄膜的(a)O1s和Ti2p的結(jié)合能差和(b)Ti2p光電子峰的半高寬與退火溫度的關(guān)系Fig.4.17(a)ThebindingenergydifferenceofO1sandTi2pand(b)theF....
圖6.21000°C保溫1h后2BTO-8NZFO薄膜的SEM照片,(a)i分別對(duì)應(yīng)
浙江大學(xué)碩士學(xué)位論文92氧離子會(huì)往基板加速,從而對(duì)薄膜乃至基板進(jìn)行轟擊,造成刻蝕。而對(duì)于BTO-NZFO復(fù)相靶材,由于BTO相的存在,反濺射效應(yīng)也應(yīng)該存在,但顯然應(yīng)該與純的BTO靶材不同。因此,我們需要先對(duì)復(fù)相BTO-NZFO材料的反濺射效應(yīng)進(jìn)行研究。圖6.1為2BTO-8NZF....
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