發(fā)布時(shí)間：2024-03-30 20:49

　　表面增強(qiáng)拉曼光譜(SERS)因其高達(dá)單分子檢測(cè)的表面靈敏度而廣受青睞,其增強(qiáng)機(jī)理主要包括電磁場(chǎng)增強(qiáng)效應(yīng)(EM)和電荷轉(zhuǎn)移增強(qiáng)(CT)。通常,前者占主導(dǎo)作用,且局域電磁場(chǎng)可極大地增強(qiáng)表面吸附分子的拉曼信號(hào)。而介質(zhì)通常對(duì)局域電磁場(chǎng)和EM增強(qiáng)有一定影響,從而影響SERS檢測(cè),通過(guò)殼層隔絕納米粒子(SHINs)可避免介質(zhì)與SERS增強(qiáng)源間的直接接觸。但迄今為止,幾乎未見(jiàn)有關(guān)介質(zhì)對(duì)其增強(qiáng)拉曼光譜(SHINERS)影響的研究,主要因SERS基底均勻性較差所致。制備了兩種探針?lè)肿觾?nèi)嵌且Au核尺寸不同的核殼納米粒子,即(55 nm Au-PNTP)@SiO₂和(110 nm Au-pMBA)@SiO₂,殼層厚度分別為3.5和4.0 nm,殼層結(jié)構(gòu)連續(xù)且無(wú)針孔效應(yīng)。采用液-液兩相成膜法制備其單層膜,轉(zhuǎn)移至固相基底上可作為SERS基底,(55 nm Au-PNTP)@SiO₂單層膜上SERS譜峰強(qiáng)度的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差約為5.38%,(110 nm Au-pMBA)@SiO₂單層膜上相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差約為5.97%,其重現(xiàn)性及均勻...

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【文章目錄】：
引 言
1 實(shí)驗(yàn)部分
    1.1 Au納米粒子的制備
        (1)15 nm Au納米粒子的制備。
        (2)55 nm Au粒子的制備。
        (3)110 nm Au的制備。
    1.2 (Au-probe)@SiO2二元納米粒子的制備
    1.3 液液界面(Au-probe)@SiO2二元納米粒子單層膜的制備
    1.4 拉曼光譜測(cè)定
2 結(jié)果與討論
    2.1 納米粒子和單層膜的形貌表征
    2.2 單層膜的性能表征
    2.3 介質(zhì)對(duì)(Au-probe)@SiO2膜SERS影響
3 結(jié) 論



本文編號(hào)：3942918