熱壓溫度對(duì)PTFE/GF復(fù)合基板性能的影響
發(fā)布時(shí)間:2024-03-20 18:46
采用熱壓工藝制備聚四氟乙烯/玻纖布微波復(fù)合介質(zhì)基板。系統(tǒng)研究了熱壓溫度對(duì)聚四氟乙烯/玻纖布復(fù)合基板吸水率、介電性能、熱膨脹系數(shù)及顯微結(jié)構(gòu)的影響。采用差示掃描量熱法研究玻纖布對(duì)聚四氟乙烯的熱行為影響。采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀對(duì)聚四氟乙烯/玻纖布復(fù)合基板介電性能進(jìn)行測(cè)試,發(fā)現(xiàn)370℃熱壓的樣品具有較低的介電常數(shù)與介電損耗(εr=2.2,tanδ=8.7×10-4)。采用熱機(jī)械分析法(TMA)測(cè)量不同熱壓溫度制備的聚四氟乙烯/玻纖布復(fù)合介質(zhì)基板z軸的熱膨脹系數(shù),發(fā)現(xiàn)370℃時(shí)熱壓制備的復(fù)合介質(zhì)板具有最低的熱膨脹系數(shù)(CTE=160.1×10-6/℃,1100℃)。
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本文編號(hào):3933139
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圖4熱壓溫度對(duì)介電性能的影響2.5復(fù)合材料的微觀形貌
介電常數(shù)及介電損耗分別為εr=2.3,tanδ=0.0013。而實(shí)際復(fù)合材料的介電常數(shù)小于理論值,介電損耗角正切值較理論值大。其原因可能是玻纖在PTFE中的分布不是ROM理論模型中的均勻分布,且ROM理論模型中的填料采取的是球形近似模型,實(shí)際復(fù)合材料中存在一定的空洞和間隙,玻纖布....
圖4熱壓溫度對(duì)介電性能的影響2.5復(fù)合材料的微觀形貌
介電常數(shù)及介電損耗分別為εr=2.3,tanδ=0.0013。而實(shí)際復(fù)合材料的介電常數(shù)小于理論值,介電損耗角正切值較理論值大。其原因可能是玻纖在PTFE中的分布不是ROM理論模型中的均勻分布,且ROM理論模型中的填料采取的是球形近似模型,實(shí)際復(fù)合材料中存在一定的空洞和間隙,玻纖布....
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