表界面在重要的能源材料過程中扮演著極其重要的角色,對(duì)表界面納米尺度和分子水平的表征有助于揭示其構(gòu)效關(guān)系.針尖增強(qiáng)拉曼光譜(TERS)技術(shù)結(jié)合了等離激元增強(qiáng)拉曼光譜和掃描探針顯微鏡(SPM)技術(shù),能夠同時(shí)在納米尺寸和分子尺度上表征表界面的物理形貌信息和化學(xué)指紋信息,因此被廣泛地應(yīng)用于催化、材料等領(lǐng)域的研究.本文首先從TERS技術(shù)在表界面研究中的優(yōu)勢(shì)出發(fā),回顧TERS技術(shù)在廈門大學(xué)的發(fā)展歷程,詳細(xì)闡述了包括TERS針尖和儀器構(gòu)型等TERS技術(shù)的核心問題;進(jìn)而分析討論了近年來TERS技術(shù)在超高真空、固氣界面和固液(電化學(xué))界面研究中的應(yīng)用;最后總結(jié)了TERS技術(shù)中亟待解決的問題并展望TERS技術(shù)未來的發(fā)展方向.

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【文章目錄】：
1 TERS在廈門大學(xué)的發(fā)展
2 TERS針尖與儀器
    2.1 針尖
    2.2 TERS儀器構(gòu)型
3 體系應(yīng)用
    3.1 超高真空超低溫
    3.2 固氣界面
    3.3 固液和電化學(xué)界面
4 展望



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