基于數(shù)學(xué)幾何學(xué),提出一種掃描電鏡納米顆粒粒徑自動(dòng)檢測(cè)方法,該方法利用電鏡顆粒圖像的粒徑分布及形狀信息,采用長(zhǎng)短軸比值和區(qū)域面積2種不同參數(shù)對(duì)顆粒是否團(tuán)簇或殘缺進(jìn)行判斷,實(shí)現(xiàn)篩選單個(gè)的完整顆粒,并使用MATLAB對(duì)不同粒徑參數(shù)的顆粒寬邊緣形狀進(jìn)行提取,運(yùn)用最小二乘法求出顆粒粒徑的像素值,經(jīng)轉(zhuǎn)化后得到真實(shí)值,從而實(shí)現(xiàn)了微納米顆粒粒徑的自動(dòng)檢測(cè)。試驗(yàn)選取聚苯乙烯納米顆粒對(duì)方法進(jìn)行驗(yàn)證,結(jié)果表明:對(duì)于團(tuán)簇殘缺較少的圖像,采用長(zhǎng)短軸比值和面積2種參數(shù)進(jìn)行篩選均能準(zhǔn)確有效提取單點(diǎn)顆粒,但團(tuán)簇殘缺顆粒較多時(shí),采用長(zhǎng)短軸比值效果更加準(zhǔn)確,且計(jì)算顆粒粒徑與實(shí)際值吻合良好。

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【文章目錄】：
1 引言
2 試驗(yàn)步驟
    2.1 試驗(yàn)樣品與制樣
    2.2 SEM圖像觀測(cè)
3 粒徑提取算法
    3.1 長(zhǎng)短軸法
    3.2 標(biāo)準(zhǔn)偏差法
    3.3 2種方法的對(duì)比
    3.4 顆粒粒徑計(jì)算
5 結(jié)論



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