基于同步輻射X射線的B 4 C/Al復(fù)合材料原位拉伸變形和損傷研究
發(fā)布時(shí)間:2022-07-11 09:53
對(duì)B4C質(zhì)量分?jǐn)?shù)分別為15wt.%和30wt.%的B4C/Al復(fù)合材料進(jìn)行了準(zhǔn)靜態(tài)拉伸實(shí)驗(yàn)研究,采用基于同步輻射X射線的同時(shí)相襯成像和衍射測(cè)量技術(shù)對(duì)B4C/Al的變形損傷過(guò)程進(jìn)行了原位實(shí)時(shí)表征,再結(jié)合X射線數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)(XDIC),首次獲得了B4C/Al復(fù)合材料拉伸過(guò)程中的多尺度力學(xué)響應(yīng):宏觀應(yīng)力-應(yīng)變曲線、細(xì)觀變形場(chǎng)和微觀晶格衍射譜。應(yīng)力-應(yīng)變曲線表明30wt.%B4C/Al較15wt.%B4C/Al具有更高的屈服強(qiáng)度和更強(qiáng)的應(yīng)變硬化效應(yīng),但延展性較差;細(xì)觀應(yīng)變場(chǎng)揭示出30wt.%B4C/Al的應(yīng)變集中區(qū)密度更高、更容易擴(kuò)展聯(lián)合形成宏觀裂紋,導(dǎo)致材料脆斷;衍射譜則顯示兩種復(fù)合材料基體的衍射峰峰移和展寬都很小,說(shuō)明彈塑性變形可能主要集中在顆粒-基體界面。顆粒間距對(duì)顆粒增強(qiáng)金屬基復(fù)合材料應(yīng)變集中區(qū)的密度和其延展性有顯著影響,調(diào)整顆粒間距有助于平衡其強(qiáng)度和延展性。本文也討論了XDIC的系統(tǒng)誤差,表明位移誤差和應(yīng)變誤差控制可分別控制在0...
【文章頁(yè)數(shù)】:11 頁(yè)
【部分圖文】:
15-B4C/Al (a)和30-B4C/Al (b)的顆粒三維分布以及顆粒尺寸分布統(tǒng)計(jì)(c)
準(zhǔn)靜態(tài)加載及同步輻射X射線相襯成像和衍射測(cè)量系統(tǒng),內(nèi)插圖為樣品尺寸示意圖。
(a) 振蕩器間距為23mm時(shí)X射線的光通量譜; (b) 基于同步輻射X射線的準(zhǔn)靜態(tài)加載時(shí)序示意圖,DG-1-SS和DG-2-SS分別表示編號(hào)為1和2的DG535數(shù)字延遲/脈沖發(fā)生器發(fā)出的單脈沖信號(hào)。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]中子輻照后B4C/Al材料斷裂機(jī)理分析[J]. 席航,張海生,吳璐,孫凱,彭艷華,莫華均. 核動(dòng)力工程. 2017(S1)
[2]橡膠材料彈性模量數(shù)字圖像相關(guān)測(cè)定法[J]. 胡斌,賀玲鳳,張蕊. 實(shí)驗(yàn)力學(xué). 2011(02)
[3]數(shù)字圖像相關(guān)方法中散斑圖的質(zhì)量評(píng)價(jià)研究[J]. 潘兵,吳大方,夏勇. 實(shí)驗(yàn)力學(xué). 2010(02)
[4]應(yīng)用數(shù)字圖像相關(guān)方法測(cè)量含缺陷試樣的全場(chǎng)變形[J]. 潘兵,謝惠民,續(xù)伯欽,戴福隆. 實(shí)驗(yàn)力學(xué). 2007(Z1)
本文編號(hào):3657952
【文章頁(yè)數(shù)】:11 頁(yè)
【部分圖文】:
15-B4C/Al (a)和30-B4C/Al (b)的顆粒三維分布以及顆粒尺寸分布統(tǒng)計(jì)(c)
準(zhǔn)靜態(tài)加載及同步輻射X射線相襯成像和衍射測(cè)量系統(tǒng),內(nèi)插圖為樣品尺寸示意圖。
(a) 振蕩器間距為23mm時(shí)X射線的光通量譜; (b) 基于同步輻射X射線的準(zhǔn)靜態(tài)加載時(shí)序示意圖,DG-1-SS和DG-2-SS分別表示編號(hào)為1和2的DG535數(shù)字延遲/脈沖發(fā)生器發(fā)出的單脈沖信號(hào)。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]中子輻照后B4C/Al材料斷裂機(jī)理分析[J]. 席航,張海生,吳璐,孫凱,彭艷華,莫華均. 核動(dòng)力工程. 2017(S1)
[2]橡膠材料彈性模量數(shù)字圖像相關(guān)測(cè)定法[J]. 胡斌,賀玲鳳,張蕊. 實(shí)驗(yàn)力學(xué). 2011(02)
[3]數(shù)字圖像相關(guān)方法中散斑圖的質(zhì)量評(píng)價(jià)研究[J]. 潘兵,吳大方,夏勇. 實(shí)驗(yàn)力學(xué). 2010(02)
[4]應(yīng)用數(shù)字圖像相關(guān)方法測(cè)量含缺陷試樣的全場(chǎng)變形[J]. 潘兵,謝惠民,續(xù)伯欽,戴福隆. 實(shí)驗(yàn)力學(xué). 2007(Z1)
本文編號(hào):3657952
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