為提高SiCp/Al復(fù)合材料均勻性超聲評(píng)價(jià)準(zhǔn)確度,研究基于超聲衰減及聲速變化量的SiCp顆粒分布均勻性成像方法。制備不同SiCp體積分?jǐn)?shù)的SiCp/Al復(fù)合材料試樣;采用水浸式超聲波系統(tǒng)對(duì)試樣進(jìn)行超聲衰減成像,分析超聲衰減量與SiCp體積分?jǐn)?shù)關(guān)系;實(shí)驗(yàn)分析聲速變化與SiCp體積分?jǐn)?shù)的定量關(guān)系并對(duì)試樣進(jìn)行聲速成像;采用金相法觀測(cè)試樣細(xì)觀特征,分析不同SiCp體積分?jǐn)?shù)下試樣的材料均勻性變化,對(duì)比分析得出超聲衰減和聲速成像法的準(zhǔn)確度和適用范圍。研究結(jié)果表明,超聲衰減成像方法適用于SiCp顆粒分布定性分析,基于聲速變化量成像方法可定量分析SiCp顆粒分布,在材料均勻性評(píng)價(jià)方面具有更高準(zhǔn)確度。 

【文章來源】：北京航空航天大學(xué)學(xué)報(bào). 2017,43(03)北大核心EICSCD

【文章頁數(shù)】：7 頁

【文章目錄】：
1 試樣制備及實(shí)驗(yàn)裝置
    1.1 試樣制備
    1.2 實(shí)驗(yàn)裝置
2 超聲衰減成像
3 聲速成像
4 金相分析與驗(yàn)證
5 誤差分析
    1)從材料特征和聲學(xué)原理角度分析
    2)從成像方法和實(shí)驗(yàn)裝置角度分析
6 結(jié)論



本文編號(hào)：3342216