新型稀土基高k薄膜及其MOS器件的制備和介電性能研究
發(fā)布時間:2021-07-27 18:42
隨著集成電路集成度的不斷提高,作為集成電路最基本單元—場效應(yīng)晶體管的尺寸也不斷縮小。在此過程中,面臨的最大的挑戰(zhàn)是柵介質(zhì)層的厚度越來越薄,從而引發(fā)無法接受的漏電流和熱損耗。由此,人們引入了高介電常數(shù)(高k)的材料來代替?zhèn)鹘y(tǒng)柵介質(zhì)材料SiO2,目前工業(yè)化使用的高k材料為HfO2,但是其介電常數(shù)較低(≤20),結(jié)晶溫度低(<500℃)等缺點,只能滿足未來幾年集成電路發(fā)展的需求,所以為了集成電路長遠發(fā)展,需要開發(fā)出新型高k柵介質(zhì)材料代替HfO2。在眾多高k材料候選中,稀土氧化物憑借較高介電常數(shù)、高禁帶寬度和優(yōu)異熱穩(wěn)定性等優(yōu)勢脫穎而出,但是,單一稀土氧化物的介電常數(shù)與HfO2相差不大,所以合理的結(jié)構(gòu)設(shè)計是提高稀土氧化物介電性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。此外,在介質(zhì)材料中,介電常數(shù)和禁帶寬度往往成反比,即在一種材料中很難同時實現(xiàn)高介電常數(shù)和高禁帶寬度的統(tǒng)一,這是設(shè)計柵介質(zhì)材料的難點所在。本論文通過磁控濺射制備了一系列稀土氧化物薄膜,通過摻雜或者疊層的方式,著重調(diào)控介電常數(shù)和禁帶寬度兩個參數(shù),使其滿足作為柵介質(zhì)材料的要求,為新型柵介質(zhì)材料的設(shè)計提供了新思路。主要研究包括:(1)研究了二元稀土氧化物薄膜制備...
【文章來源】:北京科技大學(xué)北京市 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:155 頁
【學(xué)位級別】:博士
【部分圖文】:
圖2-1芯片的制造過程??集成電路的發(fā)展歷程如圖2-2所示,1946年世界上第一臺計算機誕生,??它包含18000個電子管,占地150平方米,重達30噸,1947年第一臺點接??
不難發(fā)現(xiàn),集成電路技術(shù)相繼經(jīng)歷了小規(guī)模(SSI)、中規(guī)模(MSI)、大規(guī)模??(LSI)、超大規(guī)模(VLSI)、特大規(guī)模(ULSI)的發(fā)展歷程[16_18]。未來,集成??電路依然向著小型化、低功耗、智能化和高可靠性方向不斷發(fā)展。??關(guān),■??1946年,第?^952年’進中僮?1959年,Noyce??q算機單晶制f?I術(shù)iff??1?曰接觸?1958年,第一塊1960年,?80年代起,CMOS??日日體《誕生?丨C板誕生?Kang'?Atalla技術(shù)成為主流??Ie;??圖2-2集成電路發(fā)展歷史??集成電路集成度的提高基本遵循了英特爾公司創(chuàng)始人之一的Gordon??Moore在1965年預(yù)言的摩爾定律,即單塊芯片上所集成的晶體管的數(shù)目大約??每兩年增加一倍,即不斷減小器件的尺寸,進而能夠在相同的面積上集成更??多的器件數(shù)量,從而實現(xiàn)芯片功能的提升和成本的降低從圖2_3?(a)中可??以看出雖然近年來邏輯電路中的最小特征尺寸的縮放變緩,約為0.7倍,但??是整體還是呈現(xiàn)下降趨勢,從圖2-3?(b)中也可以看出,Intel公司在過去五代??中擴展邏輯電路面積也呈現(xiàn)不斷下降的趨勢[2()1。??(a)?WR ̄?r*0?(b>??,.?>.???*^\卜??s?X?I??I??〇.〇,?■?>i>???w??'、?》〇nm***、??〇?M??1???'?'?'?〇.〇,?I——,■,十.,,?,????,???ig7〇?*9?〇??99〇?3000?3〇i〇?2020?J〇3〇?3007?2006?300@?2010?30??3012?X>i3?9014?
nm工藝,集成了?85億個晶體管,速度提升20%,1萬億次??操作/秒,功耗降低30%,續(xù)航比上一代增加5小時[氣目前實驗室著力開發(fā)??5-3?nm工藝[23_25]。所以目前集成電路的發(fā)展趨勢依然是特征尺寸越來越小,??集成度越來越高。??Shanking?^.Lt??Num^r?m4?l?n§lh?ohamstm?bought?per?¥?類??lte???6f?^HP?2012?3014*?20tS*??Zr??-??mu??腦??sawsneflB{?i^??M2??圖2-4芯片尺寸縮小示意圖??針對我國集成電路發(fā)展現(xiàn)狀而言,由于起步較晚,我國的微電子產(chǎn)業(yè)的??發(fā)展相對滯后于國外的一些發(fā)達國家,芯片的自給率嚴(yán)重不足,目前主要依??靠進口,據(jù)統(tǒng)計[3],2018年我國集成電路出口金額為860.15億美元,進口金??額為3166.81億美元,貿(mào)易逆差同比增長11.21%。2015年起集成電路的進口??金額連續(xù)4年超過原油,成為我國第一大進口商品。我國集成電路制造水平??落后國際先進水平兩代以上,先進制程的缺失限制新應(yīng)用領(lǐng)域集成電路發(fā)展。??目前臺積電等企業(yè)7?nm工藝己經(jīng)量產(chǎn),中芯國際公司在28?nm節(jié)點就開始??落后,目前實現(xiàn)14?nm量產(chǎn),華虹在實現(xiàn)28?nm量產(chǎn)以后,在積極布局14?nm??研發(fā),大陸地區(qū)明顯落后于臺灣[26〗,所以,推動集成電路發(fā)展己經(jīng)上升至國??家工業(yè)發(fā)展的重中之重,芯片國產(chǎn)化率亟待提高。但令人高興地是,我國集??成電路的發(fā)展正處于快速追趕階段,且增速明顯,2016-2019年間,設(shè)計領(lǐng)域??保持著20%以上的增速,制造領(lǐng)域保持著25%以上,增長勢頭強勁[27]。??2.1.2場效
【參考文獻】:
期刊論文
[1]Ta-doped modified Gd2O3 film for a novel high k gate dielectric[J]. Shuan Li,Yanqing Wu,Guoling Li,Hongen Yu,Kai Fu,Yong Wu,Jie Zheng,Wenhuai Tian,Xingguo Li. Journal of Materials Science & Technology. 2019(10)
[2]2018年全球半導(dǎo)體領(lǐng)域規(guī)劃與發(fā)展態(tài)勢分析[J]. 王立娜,唐川,房俊民,張娟,田倩飛,徐婧. 世界科技研究與發(fā)展. 2019(02)
[3]Atomic-layer-deposited (ALD) Al2O3passivation dependent interface chemistry, band alignment and electrical properties of HfYO/Si gate stacks[J]. Shuang Liang,Gang He,Die Wang,Fen Qiao. Journal of Materials Science & Technology. 2019(05)
[4]中國集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展趨勢[J]. 方大衛(wèi). 電子世界. 2019(05)
[5]發(fā)展中國集成電路產(chǎn)業(yè)的“中國夢”[J]. 王陽元. 科技導(dǎo)報. 2019(03)
[6]集成電路器件工藝先導(dǎo)技術(shù)研究進展[J]. 葉甜春. 科技導(dǎo)報. 2019(03)
[7]集成電路的現(xiàn)狀及其發(fā)展趨勢[J]. 王博軒,布音嘎日迪. 科技創(chuàng)新導(dǎo)報. 2019(05)
[8]新形勢下全球稀土供需結(jié)構(gòu)的變化及我國稀土開發(fā)模式的探討[J]. 韋世強,張亮玖,楊金濤,周慧榮,江澤佐. 稀有金屬與硬質(zhì)合金. 2018(04)
[9]稀土金屬中間隙雜質(zhì)的純化進展研究[J]. 李國玲,傅凱,李星國. 中國稀土學(xué)報. 2017(04)
[10]集成電路的基本常識[J]. 吳運. 中國科技信息. 2015(06)
博士論文
[1]釔摻雜氧化鉿薄膜結(jié)構(gòu)和介電及鐵電性能研究[D]. 張昱.大連理工大學(xué) 2018
[2]稀土金屬釓鋱高純化過程與機理研究[D]. 李國玲.北京科技大學(xué) 2016
[3]基于高k柵介質(zhì)的Ⅲ-Ⅴ族化合物半導(dǎo)體MOS器件研究[D]. 王晨.復(fù)旦大學(xué) 2012
本文編號:3306334
【文章來源】:北京科技大學(xué)北京市 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:155 頁
【學(xué)位級別】:博士
【部分圖文】:
圖2-1芯片的制造過程??集成電路的發(fā)展歷程如圖2-2所示,1946年世界上第一臺計算機誕生,??它包含18000個電子管,占地150平方米,重達30噸,1947年第一臺點接??
不難發(fā)現(xiàn),集成電路技術(shù)相繼經(jīng)歷了小規(guī)模(SSI)、中規(guī)模(MSI)、大規(guī)模??(LSI)、超大規(guī)模(VLSI)、特大規(guī)模(ULSI)的發(fā)展歷程[16_18]。未來,集成??電路依然向著小型化、低功耗、智能化和高可靠性方向不斷發(fā)展。??關(guān),■??1946年,第?^952年’進中僮?1959年,Noyce??q算機單晶制f?I術(shù)iff??1?曰接觸?1958年,第一塊1960年,?80年代起,CMOS??日日體《誕生?丨C板誕生?Kang'?Atalla技術(shù)成為主流??Ie;??圖2-2集成電路發(fā)展歷史??集成電路集成度的提高基本遵循了英特爾公司創(chuàng)始人之一的Gordon??Moore在1965年預(yù)言的摩爾定律,即單塊芯片上所集成的晶體管的數(shù)目大約??每兩年增加一倍,即不斷減小器件的尺寸,進而能夠在相同的面積上集成更??多的器件數(shù)量,從而實現(xiàn)芯片功能的提升和成本的降低從圖2_3?(a)中可??以看出雖然近年來邏輯電路中的最小特征尺寸的縮放變緩,約為0.7倍,但??是整體還是呈現(xiàn)下降趨勢,從圖2-3?(b)中也可以看出,Intel公司在過去五代??中擴展邏輯電路面積也呈現(xiàn)不斷下降的趨勢[2()1。??(a)?WR ̄?r*0?(b>??,.?>.???*^\卜??s?X?I??I??〇.〇,?■?>i>???w??'、?》〇nm***、??〇?M??1???'?'?'?〇.〇,?I——,■,十.,,?,????,???ig7〇?*9?〇??99〇?3000?3〇i〇?2020?J〇3〇?3007?2006?300@?2010?30??3012?X>i3?9014?
nm工藝,集成了?85億個晶體管,速度提升20%,1萬億次??操作/秒,功耗降低30%,續(xù)航比上一代增加5小時[氣目前實驗室著力開發(fā)??5-3?nm工藝[23_25]。所以目前集成電路的發(fā)展趨勢依然是特征尺寸越來越小,??集成度越來越高。??Shanking?^.Lt??Num^r?m4?l?n§lh?ohamstm?bought?per?¥?類??lte???6f?^HP?2012?3014*?20tS*??Zr??-??mu??腦??sawsneflB{?i^??M2??圖2-4芯片尺寸縮小示意圖??針對我國集成電路發(fā)展現(xiàn)狀而言,由于起步較晚,我國的微電子產(chǎn)業(yè)的??發(fā)展相對滯后于國外的一些發(fā)達國家,芯片的自給率嚴(yán)重不足,目前主要依??靠進口,據(jù)統(tǒng)計[3],2018年我國集成電路出口金額為860.15億美元,進口金??額為3166.81億美元,貿(mào)易逆差同比增長11.21%。2015年起集成電路的進口??金額連續(xù)4年超過原油,成為我國第一大進口商品。我國集成電路制造水平??落后國際先進水平兩代以上,先進制程的缺失限制新應(yīng)用領(lǐng)域集成電路發(fā)展。??目前臺積電等企業(yè)7?nm工藝己經(jīng)量產(chǎn),中芯國際公司在28?nm節(jié)點就開始??落后,目前實現(xiàn)14?nm量產(chǎn),華虹在實現(xiàn)28?nm量產(chǎn)以后,在積極布局14?nm??研發(fā),大陸地區(qū)明顯落后于臺灣[26〗,所以,推動集成電路發(fā)展己經(jīng)上升至國??家工業(yè)發(fā)展的重中之重,芯片國產(chǎn)化率亟待提高。但令人高興地是,我國集??成電路的發(fā)展正處于快速追趕階段,且增速明顯,2016-2019年間,設(shè)計領(lǐng)域??保持著20%以上的增速,制造領(lǐng)域保持著25%以上,增長勢頭強勁[27]。??2.1.2場效
【參考文獻】:
期刊論文
[1]Ta-doped modified Gd2O3 film for a novel high k gate dielectric[J]. Shuan Li,Yanqing Wu,Guoling Li,Hongen Yu,Kai Fu,Yong Wu,Jie Zheng,Wenhuai Tian,Xingguo Li. Journal of Materials Science & Technology. 2019(10)
[2]2018年全球半導(dǎo)體領(lǐng)域規(guī)劃與發(fā)展態(tài)勢分析[J]. 王立娜,唐川,房俊民,張娟,田倩飛,徐婧. 世界科技研究與發(fā)展. 2019(02)
[3]Atomic-layer-deposited (ALD) Al2O3passivation dependent interface chemistry, band alignment and electrical properties of HfYO/Si gate stacks[J]. Shuang Liang,Gang He,Die Wang,Fen Qiao. Journal of Materials Science & Technology. 2019(05)
[4]中國集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展趨勢[J]. 方大衛(wèi). 電子世界. 2019(05)
[5]發(fā)展中國集成電路產(chǎn)業(yè)的“中國夢”[J]. 王陽元. 科技導(dǎo)報. 2019(03)
[6]集成電路器件工藝先導(dǎo)技術(shù)研究進展[J]. 葉甜春. 科技導(dǎo)報. 2019(03)
[7]集成電路的現(xiàn)狀及其發(fā)展趨勢[J]. 王博軒,布音嘎日迪. 科技創(chuàng)新導(dǎo)報. 2019(05)
[8]新形勢下全球稀土供需結(jié)構(gòu)的變化及我國稀土開發(fā)模式的探討[J]. 韋世強,張亮玖,楊金濤,周慧榮,江澤佐. 稀有金屬與硬質(zhì)合金. 2018(04)
[9]稀土金屬中間隙雜質(zhì)的純化進展研究[J]. 李國玲,傅凱,李星國. 中國稀土學(xué)報. 2017(04)
[10]集成電路的基本常識[J]. 吳運. 中國科技信息. 2015(06)
博士論文
[1]釔摻雜氧化鉿薄膜結(jié)構(gòu)和介電及鐵電性能研究[D]. 張昱.大連理工大學(xué) 2018
[2]稀土金屬釓鋱高純化過程與機理研究[D]. 李國玲.北京科技大學(xué) 2016
[3]基于高k柵介質(zhì)的Ⅲ-Ⅴ族化合物半導(dǎo)體MOS器件研究[D]. 王晨.復(fù)旦大學(xué) 2012
本文編號:3306334
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