納米材料相對(duì)于宏觀體材料有著很多不同的力學(xué)、電學(xué)、磁學(xué)等性能，這種特殊性能的研究是當(dāng)前納米材料研究的熱點(diǎn)之一。作為其基本性能之一的力學(xué)性能，對(duì)它的研究有著舉足輕重的意義，因?yàn)楫?dāng)納米材料受力發(fā)生形變時(shí)，它的其他性能，如電學(xué)、磁學(xué)、光學(xué)等受結(jié)構(gòu)變化影響也會(huì)發(fā)生相應(yīng)的變化。充分了解、掌握納米材料的力學(xué)性能，有利于其優(yōu)異特性的有效發(fā)揮。但是由于納米材料的尺寸很小，操作單體納米級(jí)材料有一定的困難，阻礙了納米材料的力學(xué)性能研究。本文利用我們自主設(shè)計(jì)的掃描電子顯微鏡/掃描探針顯微鏡聯(lián)合測(cè)試系統(tǒng)（scanning electron microscope/Scaning Probe Microscopy，SEM/SPM）和掃描電子顯微鏡聚焦離子束雙束系統(tǒng)（SEM/FIB），以不同直徑的多晶二氧化鈦（TiO2）納米/微米球體和單晶氮化硅（Si3N4）納米線為研究對(duì)象，分別對(duì)它們進(jìn)行了原位納米壓痕、三點(diǎn)彎曲和拉伸實(shí)驗(yàn)，表征了它們的力學(xué)性能。并研究了它們的尺寸與力學(xué)性能的關(guān)系，對(duì)得出的結(jié)果進(jìn)行了分析研究。具體的研究?jī)?nèi)容如下：1.利用SEM/SPM聯(lián)合測(cè)試系統(tǒng)對(duì)不同直徑的TiO2納米/微米球顆粒進(jìn)行了原位納米壓... 

【文章來(lái)源】：太原理工大學(xué)山西省 211工程院校

【文章頁(yè)數(shù)】：78 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

彈性顆粒壓痕實(shí)驗(yàn)示意圖(a)AFM針尖與球體接觸；（b）AFM壓入彈性球體，引起形變[28]

聚苯乙烯-二氧化硅核殼結(jié)構(gòu)納米顆粒 TEM 圖與壓痕實(shí)驗(yàn)圖 (a) TEM 圖；(b) 壓痕試 TEM and nanoindentation images of hollow silica spheres (a) TEM image of hollow silicaformation of a single hollow silica sphere under increasing cantilever deflection. Inset: AFMtaken after the approach curve showed a jump in[29]011 年 Imene Lahouij 研究小組將納米壓痕儀引入到透射電子顯微鏡中，用尖對(duì) MoS2納米顆粒做壓縮實(shí)驗(yàn)，通過(guò)單個(gè)納米顆粒實(shí)時(shí)變形圖可以看到形和外部富勒烯嵌套物的脫落。測(cè)得當(dāng)接觸壓力為 1GPa 時(shí)，表皮開(kāi)始脫種納米顆粒確定了最高壓力應(yīng)低于 100MPa[30]。

聚苯乙烯-二氧化硅核殼結(jié)構(gòu)納米顆粒 TEM 圖與壓痕實(shí)驗(yàn)圖 (a) TEM 圖；(b) 壓痕2 TEM and nanoindentation images of hollow silica spheres (a) TEM image of hollow sieformation of a single hollow silica sphere under increasing cantilever deflection. Inset: Ataken after the approach curve showed a jump in[29]011 年 Imene Lahouij 研究小組將納米壓痕儀引入到透射電子顯微鏡中，尖對(duì) MoS2納米顆粒做壓縮實(shí)驗(yàn)，通過(guò)單個(gè)納米顆粒實(shí)時(shí)變形圖可以看形和外部富勒烯嵌套物的脫落。測(cè)得當(dāng)接觸壓力為 1GPa 時(shí)，表皮開(kāi)始種納米顆粒確定了最高壓力應(yīng)低于 100MPa[30]。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]納米時(shí)代——現(xiàn)實(shí)與夢(mèng)想[J]. 尹邦躍.  科技智囊. 2001(09)



本文編號(hào)：3210991