納米材料相對于宏觀體材料有著很多不同的力學、電學、磁學等性能，這種特殊性能的研究是當前納米材料研究的熱點之一。作為其基本性能之一的力學性能，對它的研究有著舉足輕重的意義，因為當納米材料受力發(fā)生形變時，它的其他性能，如電學、磁學、光學等受結(jié)構(gòu)變化影響也會發(fā)生相應(yīng)的變化。充分了解、掌握納米材料的力學性能，有利于其優(yōu)異特性的有效發(fā)揮。但是由于納米材料的尺寸很小，操作單體納米級材料有一定的困難，阻礙了納米材料的力學性能研究。本文利用我們自主設(shè)計的掃描電子顯微鏡/掃描探針顯微鏡聯(lián)合測試系統(tǒng)（scanning electron microscope/Scaning Probe Microscopy，SEM/SPM）和掃描電子顯微鏡聚焦離子束雙束系統(tǒng)（SEM/FIB），以不同直徑的多晶二氧化鈦（TiO2）納米/微米球體和單晶氮化硅（Si3N4）納米線為研究對象，分別對它們進行了原位納米壓痕、三點彎曲和拉伸實驗，表征了它們的力學性能。并研究了它們的尺寸與力學性能的關(guān)系，對得出的結(jié)果進行了分析研究。具體的研究內(nèi)容如下：1.利用SEM/SPM聯(lián)合測試系統(tǒng)對不同直徑的TiO2納米/微米球顆粒進行了原位納米壓... 

【文章來源】：太原理工大學山西省 211工程院校

【文章頁數(shù)】：78 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

彈性顆粒壓痕實驗示意圖(a)AFM針尖與球體接觸；（b）AFM壓入彈性球體，引起形變[28]

聚苯乙烯-二氧化硅核殼結(jié)構(gòu)納米顆粒 TEM 圖與壓痕實驗圖 (a) TEM 圖；(b) 壓痕試 TEM and nanoindentation images of hollow silica spheres (a) TEM image of hollow silicaformation of a single hollow silica sphere under increasing cantilever deflection. Inset: AFMtaken after the approach curve showed a jump in[29]011 年 Imene Lahouij 研究小組將納米壓痕儀引入到透射電子顯微鏡中，用尖對 MoS2納米顆粒做壓縮實驗，通過單個納米顆粒實時變形圖可以看到形和外部富勒烯嵌套物的脫落。測得當接觸壓力為 1GPa 時，表皮開始脫種納米顆粒確定了最高壓力應(yīng)低于 100MPa[30]。

聚苯乙烯-二氧化硅核殼結(jié)構(gòu)納米顆粒 TEM 圖與壓痕實驗圖 (a) TEM 圖；(b) 壓痕2 TEM and nanoindentation images of hollow silica spheres (a) TEM image of hollow sieformation of a single hollow silica sphere under increasing cantilever deflection. Inset: Ataken after the approach curve showed a jump in[29]011 年 Imene Lahouij 研究小組將納米壓痕儀引入到透射電子顯微鏡中，尖對 MoS2納米顆粒做壓縮實驗，通過單個納米顆粒實時變形圖可以看形和外部富勒烯嵌套物的脫落。測得當接觸壓力為 1GPa 時，表皮開始種納米顆粒確定了最高壓力應(yīng)低于 100MPa[30]。

【參考文獻】：
期刊論文
[1]納米時代——現(xiàn)實與夢想[J]. 尹邦躍.  科技智囊. 2001(09)



本文編號：3210991