本文利用原位實驗技術,在透射電鏡中實現了對直徑約為40 nm的孿晶結構Ni納米線（D=～40 nm）的彎曲變形實驗,并對其塑性變形機制進行了原位原子尺度研究。原位原子尺度研究表明,彎曲應變對孿晶結構Ni納米線的塑性行為有顯著影響。在彎曲變形的初始階段,塑性變形受位錯行為控制,并且孿晶厚度對位錯類型和滑移系具有重要影響。隨著彎曲應變的增加,納米線中觀察到了連續(xù)的晶格畸變以及面心立方-體心四方的相轉變。當彎曲應變繼續(xù)增加超過～30%時,塑性變形方式由晶格畸變/塌陷引起的晶界形核主導。本實驗提供了孿晶結構Ni納米線在大塑性變形下的塑性變形圖像,對理解不同的彎曲應變對孿晶結構Ni納米線變形機制的影響具有借鑒意義。 

【文章來源】：電子顯微學報. 2020,39(05)北大核心CSCD

【文章頁數】：11 頁

【文章目錄】：
1 實驗
2 結果與討論
    2.1 孿晶結構Ni 納米線的TEM表征
    2.2 孿晶結構Ni納米線彎曲過程的原位TEM觀察
    2.3 低應變階段的位錯行為
    2.4 可逆面心立方-體心四方相變的原位原子尺度研究
    2.5 晶界形成的原位原子尺度研究
    2.6 討論
3 結論


【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3179341