基于宏孔導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)的鉬酸鈷納米棒/石墨烯復(fù)合材料的超級(jí)電容與析氫性能研究
發(fā)布時(shí)間:2021-03-02 03:26
本課題組通過MEMS工藝,制備出三維多孔結(jié)構(gòu)的硅微通道板(Si-MCPs),這種材料因?yàn)槠浜芨呱顚挶龋ǹ讖?μm,孔深220μm),和有序的孔道排列,能夠提供很大的比表面積,可以作為良好的電極基底材料,在超級(jí)電容與析氫方面具有很好研究和發(fā)展前景。為了改善硅微通道板的導(dǎo)電性,我們?cè)诠栉⑼ǖ腊灞砻婕翱椎郎L(zhǎng)一層均勻的鎳顆粒得到宏孔導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)(MECN)。我們以MECN作為基底材料,通過簡(jiǎn)單的水熱法在MECN上引入碳元素,通過在氬氣中退火,在MECN的表面與孔道中合成多層的納米石墨烯(nanographene/MECN),納米石墨烯的引入不僅提高了電極的導(dǎo)電性,由于其自身所有的缺陷也為電極提供了更多的活性位點(diǎn)。繼續(xù)通過簡(jiǎn)單的水熱與退火,在nanographene/MECN生長(zhǎng)了有序納米結(jié)構(gòu)的CoMoO4納米棒,最終得到CoMoO4/nanographene/MECN復(fù)合材料電極。通過多種表征與電化學(xué)測(cè)試方法,探究CoMoO4/nanographene/MECN復(fù)合材料電極的超級(jí)電容與析氫性能。我們得到,CoMoO4
【文章來源】:華東師范大學(xué)上海市 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:69 頁
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
基于宏孔導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)的鉬酸鈷納米棒/石墨烯復(fù)合材料的制備流程
華東師范大學(xué)碩士學(xué)位論文1080℃的高溫下進(jìn)行干氧(15 分鐘)-濕氧(20 分鐘)-干氧(15 分鐘)氧化,最終在硅片表面生長(zhǎng)了 300 納米左右的 SiO2掩蔽層。2.光刻我們使用圖形為 3μm ×3μm方格陣列的掩膜版,通過曝光、顯影等過程,在氧化好的硅片上得到掩膜版上的圖形。然后將硅片放入 BOE 溶液(NH4F,HF,H2O體積比 1:2:3)中腐蝕未被光刻膠保護(hù)的方格中的二氧化硅,腐蝕完畢后去除硅片表面的光刻膠保護(hù)層。3.刻蝕誘導(dǎo)坑將 25%質(zhì)量濃度的四甲基氫氧化銨放入水浴鍋中加熱到 85℃,然后將光刻好的硅片放入刻蝕 12 min。由于四甲基氫氧化銨對(duì)不同晶向的硅的刻蝕速度不同,所以將會(huì)刻蝕出類似與倒金字塔的誘導(dǎo)坑如圖 2.2。
一邊加上負(fù)電壓,在飽和食鹽水一邊加上正電壓,從而產(chǎn)生刻蝕電流?涛g會(huì)沿著誘導(dǎo)坑的尖端往前進(jìn)行,經(jīng)過 12 個(gè)小時(shí)左右的刻蝕,硅微通道板會(huì)自動(dòng)從硅片上剝離。剝離下來的硅微通道板如圖2.3所示:它的孔的大小大約為5μm ×5μm,深度約為 220μm,擁有極大的深寬比和比表面積,是三維電極支撐材料的良好選擇。圖 2.3 硅微通道板 SEM 圖:a)俯視圖,b)側(cè)視圖2.1.2 宏孔導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)(MECN)的制備由于硅微通道板的導(dǎo)電性很差,所以我們便通過在其表面沉積一層金屬鎳來增強(qiáng)它的導(dǎo)電性[27,28]。我們通過無電鍍方法沉積金屬鎳,所需的鍍液主要包含六水合氯化鎳(鎳源)、氯化銨(絡(luò)合劑)、次亞磷酸鈉(還原劑)和氨水(調(diào)節(jié) PH),沉積的原理可用下面的反應(yīng)表達(dá)式表示[29]:Si + 2OH-+ H2O → SiO32-+4H 2-1H + H → H22-2
本文編號(hào):3058507
【文章來源】:華東師范大學(xué)上海市 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:69 頁
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
基于宏孔導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)的鉬酸鈷納米棒/石墨烯復(fù)合材料的制備流程
華東師范大學(xué)碩士學(xué)位論文1080℃的高溫下進(jìn)行干氧(15 分鐘)-濕氧(20 分鐘)-干氧(15 分鐘)氧化,最終在硅片表面生長(zhǎng)了 300 納米左右的 SiO2掩蔽層。2.光刻我們使用圖形為 3μm ×3μm方格陣列的掩膜版,通過曝光、顯影等過程,在氧化好的硅片上得到掩膜版上的圖形。然后將硅片放入 BOE 溶液(NH4F,HF,H2O體積比 1:2:3)中腐蝕未被光刻膠保護(hù)的方格中的二氧化硅,腐蝕完畢后去除硅片表面的光刻膠保護(hù)層。3.刻蝕誘導(dǎo)坑將 25%質(zhì)量濃度的四甲基氫氧化銨放入水浴鍋中加熱到 85℃,然后將光刻好的硅片放入刻蝕 12 min。由于四甲基氫氧化銨對(duì)不同晶向的硅的刻蝕速度不同,所以將會(huì)刻蝕出類似與倒金字塔的誘導(dǎo)坑如圖 2.2。
一邊加上負(fù)電壓,在飽和食鹽水一邊加上正電壓,從而產(chǎn)生刻蝕電流?涛g會(huì)沿著誘導(dǎo)坑的尖端往前進(jìn)行,經(jīng)過 12 個(gè)小時(shí)左右的刻蝕,硅微通道板會(huì)自動(dòng)從硅片上剝離。剝離下來的硅微通道板如圖2.3所示:它的孔的大小大約為5μm ×5μm,深度約為 220μm,擁有極大的深寬比和比表面積,是三維電極支撐材料的良好選擇。圖 2.3 硅微通道板 SEM 圖:a)俯視圖,b)側(cè)視圖2.1.2 宏孔導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)(MECN)的制備由于硅微通道板的導(dǎo)電性很差,所以我們便通過在其表面沉積一層金屬鎳來增強(qiáng)它的導(dǎo)電性[27,28]。我們通過無電鍍方法沉積金屬鎳,所需的鍍液主要包含六水合氯化鎳(鎳源)、氯化銨(絡(luò)合劑)、次亞磷酸鈉(還原劑)和氨水(調(diào)節(jié) PH),沉積的原理可用下面的反應(yīng)表達(dá)式表示[29]:Si + 2OH-+ H2O → SiO32-+4H 2-1H + H → H22-2
本文編號(hào):3058507
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/cailiaohuaxuelunwen/3058507.html
最近更新
教材專著