提出一種綜合利用區(qū)域逼近法和柯西擬合法精確獲取Ge₂₈Sb₁₂Se₆₀薄膜和Ge₂₈Sb₁₂Se₆₀薄膜透射光譜范圍內任意波長處折射率與色散的多點柯西法,并從理論上證明了該方法的準確性.實驗上,采用磁控濺射法制備了這兩種Ge—Sb—Se薄膜,利用傅里葉紅外光譜儀測得了透射光譜曲線,運用分段濾波的方法去除噪聲,然后使用多點柯西法得到了這兩種薄膜在500—2500 nm波段的折射率、色散、吸收系數(shù)和光學帶隙.結果表明Ge₂₈Sb₁₂Se₆₀薄膜的折射率和吸收系數(shù)大于Ge₂₈Sb₁₅Se₆₅薄膜, Ge₂₈Sb₁₅Se₆₅薄膜的光學帶隙小于Ge₂₈Sb₁₂Se₆₀薄膜.最后,利用拉曼光譜對兩種薄膜的微觀... 

【文章來源】：物理學報. 2020,69(11)北大核心

【文章頁數(shù)】：11 頁

【文章目錄】：
1 引言
2 理論分析與模擬仿真
    2.1 理論模型
    2.2 折射率獲取方法及擬合模型
        2.2.1 改進的Swanepoel方法
        2.2.2 區(qū)域逼近法
        2.2.3 折射率擬合模型
    2.3 模擬仿真
3 實驗
    3.1 樣品制備
    3.2 樣品測試
4 結果與討論
    4.1 透射光譜濾波
    4.2 折射率及色散分析
    4.3 吸收系數(shù)及光學帶隙分析
    4.4 拉曼結構分析
5 結論
附錄


【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3033357