采用時(shí)域有限差分法和麥克斯韋應(yīng)力張量法,系統(tǒng)研究了金薄膜襯底上介質(zhì)-金屬核殼結(jié)構(gòu)所受的光學(xué)力.研究結(jié)果表明:由于核殼結(jié)構(gòu)與襯底之間強(qiáng)的等離激元模式雜化效應(yīng),其所受的光學(xué)力相較于單個(gè)核殼結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)了一個(gè)數(shù)量級的增強(qiáng);同時(shí),通過改變激發(fā)波長,實(shí)現(xiàn)了局域電場分布的調(diào)控,以此觀察到了核殼結(jié)構(gòu)光學(xué)力方向的可控反轉(zhuǎn);進(jìn)一步,詳細(xì)分析了核殼結(jié)構(gòu)所受光學(xué)力隨其到襯底間距、內(nèi)核介質(zhì)的尺寸及折射率等的變化關(guān)系,以此豐富了光學(xué)力大小、方向和峰值波長的調(diào)控方法.研究結(jié)果可為精確控制顆粒/金屬薄膜納米腔的尺寸提供一種新的途徑,并為調(diào)控單分子級的光與物質(zhì)相互作用、研發(fā)新型納米光子器件提供有益參考. 

【文章來源】：物理學(xué)報(bào). 2020,69(18)北大核心

【文章頁數(shù)】：7 頁

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號：2991552