基于低維材料的寬波段光電探測(cè)器研究
【學(xué)位授予單位】:蘇州大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號(hào)】:TB383.1;TN15
【圖文】:
于低維材料的寬波段光電探測(cè)器研究 第一章 緒著電子和空穴遷移率的提升。當(dāng)器件溝道尺寸保持不變,遷移率提升導(dǎo)致電子空穴渡越溝道的時(shí)間(ttrans)縮短。可以用公式 1-1 表示17: rans= 2 SD(1-1中,L 是器件溝道長(zhǎng)度, 是電子和空穴遷移率。如果空穴的遷移率遠(yuǎn)低于電子遷移率,那么電子渡越器件溝道的時(shí)間遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于空穴。當(dāng)一個(gè)空穴傳輸?shù)诫姇r(shí),許多電子早已參與回路并循環(huán)多次產(chǎn)生光電流,導(dǎo)致了光電導(dǎo)增益的產(chǎn)生
緒論 基于低維材料的寬波段光電探被材料的缺陷或表面處有效的俘獲,導(dǎo)致更長(zhǎng)的載流子壽命。相比,此時(shí)一個(gè)電子或空穴渡越溝道到電極端時(shí),更多空穴或電子早已因此產(chǎn)生更大的光電導(dǎo)增益。這種效應(yīng)在納米結(jié)構(gòu)材料如量子點(diǎn),納料中比較常見(jiàn),因?yàn)榈途S材料的比表面積相對(duì)較大,缺陷態(tài)較高,生載流子;诠鈻判(yīng)的器件在光照下轉(zhuǎn)移曲線發(fā)生水平移動(dòng),如在光照條件下,半導(dǎo)體材料吸收光子產(chǎn)生電子空穴對(duì),空穴被價(jià)帶俘獲,在這種情況下,被俘獲而聚集的空穴能有效移動(dòng)材料的費(fèi)米誘發(fā)更多的電子產(chǎn)生。電子密度的增加進(jìn)一步降低了器件的電阻,多光電流流動(dòng)。聚集的電荷會(huì)形成有效的柵極電場(chǎng)使 ISD-VSD曲線相生水平移動(dòng)( VG),而 VG的正負(fù)代表著被俘獲電荷的極性。如圖 光柵效應(yīng)也能導(dǎo)致了負(fù)向光電流。
圖 1.3(a)光伏效應(yīng)原理圖。(b)光伏效應(yīng)下器件的 ISD-VSD特性曲線。1.2.4 光熱電效應(yīng)在光熱電效應(yīng)中,光的不均勻照射導(dǎo)致溝道間的半導(dǎo)體存在溫度梯度( T)。該溫度梯度可以通過(guò)塞貝克系數(shù)轉(zhuǎn)化為半導(dǎo)體的電壓梯度( V),如圖 1.4 所示。產(chǎn)生的電壓正比于溫度,表達(dá)式如 1-2 所示19: = × (1-2)其中 S 為塞貝克系數(shù)。這個(gè)溫度梯度可以是照射時(shí)激光光斑面積遠(yuǎn)小于器件溝道尺寸導(dǎo)致的局部加熱,也可能是不同區(qū)域吸光度不同引起的溫度不均。
【相似文獻(xiàn)】
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