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UV固化活化漿料的制備及快速化學鍍銅的應用研究

發(fā)布時間:2020-02-16 15:41
【摘要】:印制電路板(PCB)是組裝電子零件的基板,它的主要功能是使各種電子零件形成預定電路的連接,起中繼傳輸的作用,有“電子產品之母”之稱。目前PCB的生產工藝有減成法和加成法。減成法工藝成熟,但存在工序復雜、耗材多、環(huán)境污染重等問題;近年來,具有制程簡單、效率高、成本低、環(huán)保等優(yōu)點的加成法工藝成為研究熱點。因此,本文研究了一種環(huán)保、高效、節(jié)能的UV固化活化漿料的制備及其快速化學鍍銅的應用工藝。本文首先針對目前市場上化學鍍銅工藝鍍速低的缺陷,提出了一種以THPED和EDTA-2Na為復合配位劑的快速化學鍍銅工藝。采用掃描電鏡(SEM)、能譜分析(EDS)、X射線衍射儀(XRD)及電化學工作站等分析測試技術,系統(tǒng)地研究了主鹽、配位劑、添加劑及操作條件等對該體系沉積速率、鍍液穩(wěn)定性及鍍層質量的影響。通過對THPED-EDTA-2Na快速化學鍍銅體系的研究,篩選出了該體系的適宜添加劑,并通過正交試驗確定了最佳復合添加劑配方,最終得到該體系的最佳工藝條件為:CuSO4·5H2O 12 g/L, EDTA·2Na 5.8g/L, THPED 10 g/L,甲醛14 mL/L,2,2'-聯(lián)吡啶10mg/L,2-MBT 7mg/L,有機物M20mg/L, K4Fe(CN)6·3H2O 10mg/L,吐溫-8015mg/L,pH值12.5~13.0,溫度50~60℃。最佳工藝條件下施鍍20min,鍍速達16.8um/h,鍍液穩(wěn)定,化學鍍銅層平整、光亮、細致,沉積層為立方晶系銅,PCB孔覆背光級數達到9級。通過對該體系的電化學研究發(fā)現,甲醛在電位為-0.48V左右發(fā)生伴隨前置化學反應的不可逆氧化反應,Cu(Ⅱ)在電位為-1.18V左右發(fā)生Cu2+的陰極還原反應也是伴隨有前置化學反應的不可逆電化學反應。甲醛的陽極氧化峰電流密度隨甲醛濃度的增大而增大,隨THPED、EDTA·2Na、2,2'-聯(lián)吡啶、有機物M、K4Fe(CN)6和吐溫-80濃度的增大而減小,表明配位劑和添加劑均會抑制甲醛的陽極氧化。Cu(Ⅱ)的陰極還原峰電流密度隨硫酸銅濃度的增大而增大;隨THPED濃度的增大先減小后增大;隨EDTA-2Na和有機物M濃度的增大先增大后減;隨2,2’-聯(lián)吡啶濃度的增大而減小,之后趨于穩(wěn)定;K4Fe(CN)6和吐溫-80對陰極還原峰電流密度影響不明顯。加入有機物M后,陰極還原峰電位正移。表明硫酸銅、EDTA·2Na和有機物M加速了陰極反應速度,從而增加了化學鍍銅過程的總體速率,而其他組分抑制了陰極Cu2+的還原。本文還制備了一種UV固化活化漿料,通過紅外光譜(FT-IR)、SEM、EDS和電化學開路電位-時間(OCP-t)等技術,分析了活化漿料及鍍銅層的表面形貌、表面元素分布及催化活性、化學鍍銅過程等,并研究了光引發(fā)劑、預聚物樹脂、稀釋劑單體、AgNO3含量及導電炭黑含量等對活化漿料及化學鍍銅層性能的影響,確定了最佳活化漿料配方:聚酯丙烯酸酯(PEA)和聚氨酯丙烯酸酯(PUA)為預聚物(PEA:PUA=4:6), ITX+EDB和907為復合光引發(fā)劑(ITX+EDB:907=1:1), TPGDA和TMPTA為復合稀釋劑單體(TPGDA:TMPTA=1:1), AgNO3含量為7%,導電炭黑含量為7%-12%。將活化漿料涂布在PI薄膜上,UV固化后化學鍍銅10min,所得鍍銅層顆粒細小、致密,與基材的結合力達100%,方阻為0.046Ω/□。
【圖文】:

SEM圖,添加劑,吐溫,亞鐵氰化鉀


(a)無添加劑;(b)20mg/L邋亞鐵氰化鐘;(c)3mg/L邋2-1VIBT;逡逑(d)20mg/L邋有機物邋M;邋(e)20mg/L邋吐溫-80;邋(f)4mg/L邋硫脲逡逑Fig.邋2-10邋SEM邋analysis邋of邋copper邋deposit:逡逑(a)no邋additives;邋(b)邋20mg/L邋K4Fe(CN)6;(c)3ing/L邋2-MBT;逡逑(d)邋20mg/L邋Organic邋compounds邋M;(e)邋20mg/L邋Tween-80;(f)4mg/L邋Tu逡逑(3)復合添加劑對化學鍍銅的影響逡逑由于硫脲的鎮(zhèn)層質量較差;亞鐵氰化鉀和吐溫-80對沉積速率和鎮(zhèn)液穩(wěn)定性響不大;2-MBT穩(wěn)定鍍液的能力有限;而有機物M能在提高沉積速率的同時增逡逑液穩(wěn)定性,且鍍層光亮細致,兼有加速劑、穩(wěn)定劑和光亮劑的功能。因此以有機同2-MBT、吐溫-80和亞鐵氰化鉀復配,設計正交試驗,考察了復合添加劑對沉逡逑率及鍍液穩(wěn)定性的影響,以期進一步改善鍍液性能。正交試驗因素水平表如表2-6,逡逑結果如表2-7,方差分析結果如表2-8所示。穩(wěn)定性測試按2.2.3.2的操作進行,逡逑

陰極極化曲線,濃度


Fig.3-15邋Effect邋of邋THPED邋concentration邋on邋cathodic邋polarization邋curve邋of逡逑3.5.3添加EDTA.2Na對Cu(丨丨)的陰極極化曲線的影響逡逑EDTA.2Na對Cii(II)陰極極化曲線的影響如圖3-16所示。由圖可知,EDTA.2Na逡逑對峰1基本無影響,對峰2電流密度的影響很明顯,隨EDTA.2Na濃度的增大,峰電逡逑流密度先增大后減小。EDTA‘2Na濃度為2.3g/L時,峰電流為3.808邋mA_cm_2;邋EDTA‘2Na逡逑濃度為5.8g/L時,峰電流密度增至4.386邋mA.cm_2;繼續(xù)增大EDTA‘2Na濃度,峰電逡逑流密度降低。這與工藝研宄結果吻合,當EDTA_2Na濃度較小時,僅能起到消耗THPED逡逑配位能力的作用,,此時溶液中主要以Cu-THPED配合物為主;n)TA_2Na過量后,配逡逑位體含量過高,沉積速率減慢。逡逑47逡逑
【學位授予單位】:廣東工業(yè)大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2015
【分類號】:TN41;TB306

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本文編號:2580148

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