【摘要】：貴金屬納米顆粒具有局域表面等離激元這一特性使其具有豐富的光學(xué)性質(zhì),而這一特性受制于納米顆粒所形成的立體幾何形狀,而透射電鏡和掃描電鏡的二維圖像不能真切地觀測(cè)和確定納米顆粒所形成的立體幾何結(jié)構(gòu)。透射電鏡三維重構(gòu)技術(shù)可作為一種確定納米顆粒立體結(jié)構(gòu)的直觀有效的方法。本文利用透射電鏡的三維重構(gòu)技術(shù),選擇合適的參數(shù)進(jìn)行二維圖像的采集、圖像匹配對(duì)中及重構(gòu)、立體模型的構(gòu)建,從而通過(guò)構(gòu)建的模型對(duì)兩種金納米顆粒樣品的不同幾何形狀所產(chǎn)生的邊界形態(tài)進(jìn)行了確認(rèn)和分析。
【作者單位】： 蘇州大學(xué)分析測(cè)試中心;
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)青年基金(No.21301333) 實(shí)驗(yàn)室安全及設(shè)備管理教改項(xiàng)目(No.58333007)
【分類號(hào)】：O614.123;TB383.1
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本文編號(hào)：2543762