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GaN納米柱的發(fā)光特性研究

發(fā)布時間:2019-02-16 11:14
【摘要】:以GaN為代表的Ⅲ族氮化物半導(dǎo)體材料,近年來得到了快速發(fā)展。由于其具有傳統(tǒng)半導(dǎo)體材料不具備的獨特的光學和電學性能,如從0.7eV到6.2eV連續(xù)可調(diào)的寬的直接帶隙、大的激子束縛能、高熱導(dǎo)率等,GaN基半導(dǎo)體材料已成為制備光電子器件的首選材料。當前,隨著理論和技術(shù)的快速發(fā)展,對GaN基半導(dǎo)體材料的研究與應(yīng)用也轉(zhuǎn)向了新的方向—材料及器件的納米化。由于他們的光電性質(zhì)因顯著的量子效應(yīng)會出現(xiàn)與塊體材料不同的新的特點以及他們將在構(gòu)筑納米光電子器件的進程中充當非常重要的角色,GaN基納米材料的研究越來越受到人們的關(guān)注,特別是GaN納米柱結(jié)構(gòu)作為一種新奇的納米材料,成為當前GaN基納米材料科學領(lǐng)域的前言和熱點。本論文圍繞GaN納米柱的光學性質(zhì)展開研究。首先運用室溫變功率光致發(fā)光(PL)譜的方法,研究了GaN納米柱和GaN薄膜(作為參考)的光致發(fā)光特性,然后進一步分析了在固定激發(fā)光功率下,GaN納米柱和GaN薄膜的量子效率表現(xiàn)。得到的主要現(xiàn)象及結(jié)論如下:(1) GaN納米柱和薄膜的光致發(fā)光譜中均有三個發(fā)光峰,分別是位于362nm左右的帶邊峰,位于434nm左右的藍光帶峰及位于550nm左右的黃光帶峰。另外,兩個樣品的帶邊峰起源不同,這會導(dǎo)致在最高激發(fā)光功率時,相對于薄膜,納米柱中參與帶邊輻射復(fù)合的載流子比例增大的程度稍微小于激發(fā)光功率0.5mW時。(2)在整個激發(fā)光功率范圍內(nèi),GaN納米柱的帶邊峰積分PL強度與藍光帶、黃光帶積分PL強度的比均大于薄膜中相對應(yīng)的值,這表明納米柱的光學質(zhì)量高于薄膜。(3)隨激發(fā)光功率增加,納米柱中參與帶邊輻射復(fù)合的載流子比例不斷大于薄膜,相應(yīng)的,參與藍光帶及黃光帶輻射復(fù)合的載流子比例不斷小于薄膜。這是由納米柱中相對較小的點缺陷密度引起的,小的點缺陷密度促使光生載流子更易進行帶邊輻射復(fù)合,并且隨激發(fā)光功率增加,該促進作用不斷增強。同時,這也解釋了隨激發(fā)光功率增加,納米柱的帶邊峰峰強由小于變?yōu)橹饾u大于黃光帶峰強,而薄膜的帶邊峰峰強始終小于黃光帶峰強這一實驗現(xiàn)象。(4)實驗中發(fā)現(xiàn),GaN納米柱的帶邊峰強是薄膜的14倍,積分PL強度是薄膜的12.2倍,這表明GaN納米柱具有比薄膜更高的內(nèi)量子效率和光抽取效率。(5)建立了一種新模型,研究了GaN納米柱和薄膜的內(nèi)量子效率關(guān)系。計算結(jié)果表明GaN納米柱的內(nèi)量子效率比薄膜高2-3倍。同時,此模型也證明了傳統(tǒng)測量內(nèi)量子效率的方法是不適合本項研究中的納米柱結(jié)構(gòu)的。
[Abstract]:Group 鈪,

本文編號:2424387

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