【摘要】：簡要介紹基于像差校正高分辨透射電子顯微鏡的負球差成像技術(shù)及其在研究功能氧化物材料原子構(gòu)型中的應(yīng)用。在亞埃尺度的空間分辨率下,負球差成像技術(shù)不但可以獲得高襯度的原子尺度結(jié)構(gòu)像,而且可以在皮米精度測量材料中的原子的相對位移,從而精確表征材料結(jié)構(gòu)、晶格缺陷的細微變化及其對材料性能的影響。負球差成像技術(shù)為定量解析材料中包含輕原子(例如,氧)在內(nèi)的精細結(jié)構(gòu)問題提供了有力的手段。重點介紹了負球差成像技術(shù)在表征鐵電材料電偶極矩、疇結(jié)構(gòu)及疇壁,氧化物異質(zhì)界面和三維Mg O晶體表面精細結(jié)構(gòu)中的應(yīng)用。
[Abstract]:The negative spherical aberration imaging technique based on aberration correction high resolution transmission electron microscope and its application in the study of atomic configuration of functional oxide materials are briefly introduced. At the spatial resolution of Yae scale, the negative spherical aberration imaging technique can not only obtain the high contrast atomic scale structure image, but also measure the relative displacement of atoms in the material accurately, so that the material structure can be accurately characterized. The minor changes of lattice defects and their effects on the properties of materials. Negative spherical aberration imaging provides a powerful means for the quantitative analysis of fine structure problems involving light atoms (e.g. oxygen) in materials. The application of negative spherical aberration imaging in the characterization of ferroelectric dipole moment, domain structure and domain wall, oxide heterogeneity interface and surface fine structure of 3D MgO crystal is introduced.
【作者單位】： 西安交通大學材料科學與工程學院金屬材料強度國家重點實驗;西安交通大學微電子學院;德國于利希研究中心ER-C電鏡中心;
【基金】：國家自然科學基金資助項目(51471169,51390472) 科技部973計劃項目(2015CB654903)
【分類號】：TB34

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本文編號：2171950