本文選題：電感耦合等離子體發(fā)射光譜 + 氧化銦錫　； 參考：《中國(guó)材料進(jìn)展》2017年04期

【摘要】：氧化銦錫(ITO)粉體中的微量雜質(zhì)元素對(duì)其薄膜制品的透光率等光譜特性影響較大。用電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)同時(shí)測(cè)定ITO粉體中Sn,Fe,Cu,Pb,Zn,Ca,Mg共7種微量元素。樣品置于銀坩堝中用氫氧化鈉鋪底和覆蓋,高溫堿法熔融,用熱水和稀鹽酸浸取并轉(zhuǎn)移至溶液中;選擇合適譜線消除了元素之間的譜線干擾、配制混合標(biāo)準(zhǔn)溶液時(shí)采用基體匹配法消除了基體干擾;對(duì)每種元素的精密度、檢出線和加標(biāo)回收率進(jìn)行了研究,試驗(yàn)結(jié)果表明,每種元素的精密度均不大于1.2%,加標(biāo)回收率在98~104%之間,樣品測(cè)試結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)值一致。
[Abstract]:Trace impurity elements in indium tin oxide (ITO) powders have great influence on the transmittance and other spectral properties of the films. Inductively coupled plasma emission spectrometry (ICP-OES) was used to determine seven trace elements in ITO powders. The sample is placed in a silver crucible and covered with sodium hydroxide, melted by alkali method at high temperature, soaked with hot water and dilute hydrochloric acid, and transferred to the solution. The matrix interference was eliminated by matrix matching method when mixed standard solution was prepared. The precision, detection line and recovery rate of each element were studied. The precision of each element is not greater than 1.2%, the recovery of the added standard is between 98 and 104%, and the test results are in agreement with the standard value.
【作者單位】： 中國(guó)兵器工業(yè)集團(tuán)第五三研究所;
【基金】：國(guó)防科技工業(yè)局計(jì)量項(xiàng)目(J092011A001)
【分類號(hào)】：O657.31;TB383.3

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本文編號(hào)：1926454