本文關(guān)鍵詞：利用電感耦合等離子體質(zhì)譜法表征環(huán)境中金屬納米顆粒　出處：《環(huán)境化學(xué)》2017年02期 　論文類型：期刊論文

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【摘要】：本文利用珀金埃爾默最新的Nex ION~汶 2000型電感耦合等離子體質(zhì)譜儀對金屬納米顆粒的粒徑和濃度進(jìn)行了表征.結(jié)果顯示,Nex ION 2000可對粒徑10 nm以下的納米顆粒進(jìn)行準(zhǔn)確測量,也可對不同粒徑的納米顆粒混合物進(jìn)行區(qū)分和表征.
[Abstract]:The particle size and concentration of metal nanoparticles were characterized by Perkin Elmer's latest Nex ION ~ Wen 2000 inductively coupled plasma mass spectrometer. Nex ION 2000 can accurately measure the size of nanoparticles under 10 nm, and can also distinguish and characterize the mixture of nanoparticles with different particle sizes.
【作者單位】： PerkinElmer Inc.;珀金埃爾默企業(yè)管理(上海)有限公司;
【分類號】：O657.63;TB383.1
【正文快照】： 納米材料在眾多消費產(chǎn)品領(lǐng)域的快速發(fā)展和應(yīng)用使得被釋放到環(huán)境中的納米顆粒逐漸增多.金屬納米顆粒具有的獨特物理化學(xué)性質(zhì)使其會對生物及環(huán)境帶來潛在影響.近年來,有關(guān)納米顆粒環(huán)境效應(yīng)的研究已逐漸引起國際環(huán)境科學(xué)領(lǐng)域研究者的關(guān)注.目前對于納米顆粒特性進(jìn)行表征的手段比較

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本文編號：1441044