本文關(guān)鍵詞：利用CUDA技術(shù)實(shí)現(xiàn)的深度包檢測(cè)，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：隨著網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的日益發(fā)展,人們的生活越來(lái)越離不開網(wǎng)絡(luò),在網(wǎng)絡(luò)技術(shù)帶給我們方便的同時(shí),其包含的安全隱患也不容忽視。深度包檢測(cè)作為一種在流量管理、安全以及網(wǎng)絡(luò)分析等方面較為成熟的技術(shù)被各大網(wǎng)絡(luò)運(yùn)營(yíng)商、互聯(lián)網(wǎng)服務(wù)提供商廣泛應(yīng)用,其核心算法的效率也成為研究的重點(diǎn)。而如今GPU的高性能并行運(yùn)算能力越來(lái)越受到大家的青睞,利用CUDA技術(shù)實(shí)現(xiàn)并行改進(jìn)算法也成為了提高程序執(zhí)行速度的首選方案。本文將從兩個(gè)方面研究和實(shí)現(xiàn)高效的DPI算法,一是設(shè)計(jì)和改進(jìn)基于SDCH字典壓縮的模式匹配算法,這是實(shí)現(xiàn)SDCH深度包檢測(cè)的基礎(chǔ),利用CUDA技術(shù)對(duì)其進(jìn)行并行化改進(jìn)也能大幅度提高算法的執(zhí)行效率,使其更好地面對(duì)實(shí)際問(wèn)題;二是設(shè)計(jì)正則表達(dá)式匹配算法Glushkov自動(dòng)機(jī)比特并行方法的高度并行化改進(jìn)方案,從而提高正則表達(dá)式匹配算法的效率,以達(dá)到加快基于正則表達(dá)式匹配DPI算法速度的目的。最終驗(yàn)證了兩種算法的正確性,并比較了利用CUDA技術(shù)改進(jìn)后的算法與CPU下原算法在執(zhí)行效率上的差異,進(jìn)一步證明了改進(jìn)的成效,并為DPI算法面對(duì)實(shí)際復(fù)雜的工作提供效率上的有力保障。
【關(guān)鍵詞】：SDCH Glushkov CUDA DPI
【學(xué)位授予單位】：吉林大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號(hào)】：TP393.08
【目錄】：

• 摘要4-5
• Abstract5-9
• 第1章 引言9-21
• 1.1 研究背景9-10
• 1.2 基本概念介紹10-18
• 1.3 國(guó)內(nèi)外發(fā)展歷史及研究現(xiàn)狀18-19
• 1.4 論文的組織19-21
• 第2章 基于SDCH的DPI算法的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)以及改進(jìn)21-41
• 2.1 算法介紹21
• 2.2 算法解析21-33
• 2.2.1 Off-line階段21-29
• 2.2.2 On-line階段29-33
• 2.3 算法偽代碼33-37
• 2.3.1 根據(jù)模式構(gòu)造DAWG33-34
• 2.3.2 比特并行編碼34-36
• 2.3.3 預(yù)處理字典36-37
• 2.3.4 檢測(cè)匹配37
• 2.4 利用CUDA改進(jìn)算法37-41
• 2.4.1 CPU下性能的瓶頸37-38
• 2.4.2 GPU下的改進(jìn)38
• 2.4.3 GPU下shift-and算法的具體實(shí)現(xiàn)38-41
• 第3章 Glushkov自動(dòng)機(jī)并特并行方法的CUDA改進(jìn)41-49
• 3.1 算法介紹41
• 3.2 算法的并行化設(shè)計(jì)41-44
• 3.2.1 單模式41-43
• 3.2.2 多模式43-44
• 3.3 算法如何在GPU中工作44-45
• 3.4 算法偽代碼45-48
• 3.4.1 CPU下構(gòu)造Glushkov自動(dòng)機(jī)45-46
• 3.4.2 GPU下匹配算法46-48
• 3.5 算法分析48-49
• 第4章 算法正確性及性能測(cè)試49-55
• 4.1 基于SDCH字典壓縮的多模式匹配算法部分49-52
• 4.1.1 測(cè)試的目的49
• 4.1.2 測(cè)試環(huán)境及數(shù)據(jù)49
• 4.1.3 測(cè)試正確性49-50
• 4.1.4 測(cè)試模式數(shù)量與長(zhǎng)度對(duì)算法效率的影響50-51
• 4.1.5 驗(yàn)證利用CUDA改進(jìn)的效果51-52
• 4.2 Glushkov自動(dòng)機(jī)比特并行方法的CUDA改進(jìn)部分52-55
• 4.2.1 測(cè)試目的52
• 4.2.2 測(cè)試環(huán)境52-53
• 4.2.3 測(cè)試數(shù)據(jù)53
• 4.2.4 測(cè)試結(jié)果53-55
• 第5章 總結(jié)與展望55-58
• 5.1 全文總結(jié)55
• 5.2 今后工作的展望55-58
• 參考文獻(xiàn)58-60
• 作者簡(jiǎn)介及在學(xué)期間取得的科研成果60-61
• 致謝61

【參考文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前3條

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  本文關(guān)鍵詞：利用CUDA技術(shù)實(shí)現(xiàn)的深度包檢測(cè)，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

本文編號(hào)：464184